GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀

關鍵詞：高溫介電，溫譜，平行板電極原理

GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測試夾具依據(jù)國際標準ASTM D150方法設計，采用平行板電極原理，測試電極由上下電極+保護電極組成。上下電**有良好的同心度和平行度，保護電極可減少周圍空氣電容的影響，使得測試數(shù)據(jù)更加準確可靠。

2.介電溫譜儀可測量陶瓷、薄膜、半導體等塊狀材料，可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用，組成一套集實驗方案設計、測量、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)分析的三琦高溫介電溫譜測量系統(tǒng)。可同時測量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜的測量數(shù)據(jù)與圖形。測試頻率為DC-30MHz。

系統(tǒng)配置：

（一）、低溫模塊：

1、系統(tǒng)配置參數(shù)

系統(tǒng)采用模塊化結構，測試主機、溫控系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個分系統(tǒng)分離，易于系統(tǒng)寬展和升*。含測試計算機1臺、信號切換與控制系統(tǒng)1臺，低溫儀含四通道夾具1臺、6L液氮罐1個，測試軟件1套，

2、性能指標參數(shù)

（1）溫度區(qū)間：低溫系統(tǒng)-185℃~260℃；

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min；

（4）四通道測試夾具：低溫夾具為融石英與鈹銅鍍金探針復合結構夾具，探針壓力150g，探針直徑小于3mm，探針彈簧行程大于4mm，*證長期測試穩(wěn)定性；

（5）系統(tǒng)屏蔽：輸入端口采用四個BNC端口；輸出端口采用10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時）；四通道切換主板采用預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，*證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性；

（6）測試頻率范圍：阻抗測試范圍20Hz-10MHz, LCR測試范圍20Hz-2MHz（請依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表）

（7）測試頻率數(shù)量：1~8個

（8）測試樣品個數(shù)：4個

（9）測試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）測試液氮用量：一次測試液氮使用小于1L；

（12）變溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能。

（13）軟件：采用C#語言編寫，可視化程度高，自動測試。同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù)，并圖形化。

（二）、高溫模塊：

1、系統(tǒng)配置參數(shù)

系統(tǒng)采用模塊化結構，測試主機、溫控系統(tǒng)、信號采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個分系統(tǒng)分離，易于系統(tǒng)寬展和升*。含測試信號切換與控制系統(tǒng)1臺，高溫儀含四通道測試夾具1臺，測試軟件1套。

2、性能指標參數(shù)

（1）溫度區(qū)間：室溫~1000℃；

（2）溫度精度：±0.5 ℃

（3）升溫速率：1℃/min~10℃/min；

（4）四通道測試夾具：高溫夾具為融石英與探針復合夾具。其中探針為氧化鋁與鉑金復合結構，芯層為鉑金，絕緣層為氧化鋁，屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端，探針直徑小于3.5mm。以*證長期高溫測試穩(wěn)定性。

（5）系統(tǒng)屏蔽：輸入端口采用四個BNC端口；輸出端口采用10個SMA輸出端口，需采用SMA接頭以提高高頻測試穩(wěn)定性（頻率大于1MHz時）；四通道切換主板采用預埋屏蔽層設計，連接線材采用射頻同軸線，*證低頻與高頻測試精度和穩(wěn)定性；

（6）測試頻率范圍：阻抗測試范圍20Hz-10MHz, LCR測試范圍20Hz-2MHz（請依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表）

（7）測試頻率數(shù)量：1~8個

（8）測試樣品個數(shù)：4個

（9）測試樣品直徑：1.5 mm~20mm

（10）測試樣品厚度：0.02 mm~4mm

（11）變溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能。

（12）軟件：采用C#語言編寫，可視化程度高，自動測試。同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù)，并圖形化。