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公司基本資料信息
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GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀
關(guān)鍵詞:高溫介電,溫譜,平行板電極原理
GWJDN-150型高低溫高溫介電溫譜儀中的測(cè)試夾具依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)ASTM D150方法設(shè)計(jì),采用平行板電極原理,測(cè)試電極由上下電極+保護(hù)電極組成。上下電**有良好的同心度和平行度,保護(hù)電極可減少周圍空氣電容的影響,使得測(cè)試數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確可靠。
2.介電溫譜儀可測(cè)量陶瓷、薄膜、半導(dǎo)體等塊狀材料,可與WK6500系列、Agilent/keysight E4990A、同惠TH28系列阻抗分析儀集成使用,組成一套集實(shí)驗(yàn)方案設(shè)計(jì)、測(cè)量、數(shù)據(jù)輸出、數(shù)據(jù)分析的三琦高溫介電溫譜測(cè)量系統(tǒng)。可同時(shí)測(cè)量及輸出頻率譜、電壓譜、偏壓譜、溫度譜的測(cè)量數(shù)據(jù)與圖形。測(cè)試頻率為DC-30MHz。
系統(tǒng)配置:
(一)、低溫模塊:
1、系統(tǒng)配置參數(shù)
系統(tǒng)采用模塊化結(jié)構(gòu),測(cè)試主機(jī)、溫控系統(tǒng)、信號(hào)采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個(gè)分系統(tǒng)分離,易于系統(tǒng)寬展和升*。含測(cè)試計(jì)算機(jī)1臺(tái)、信號(hào)切換與控制系統(tǒng)1臺(tái),低溫儀含四通道夾具1臺(tái)、6L液氮罐1個(gè),測(cè)試軟件1套,
2、性能指標(biāo)參數(shù)
(1)溫度區(qū)間:低溫系統(tǒng)-185℃~260℃;
(2)溫度精度:±0.5 ℃
(3)升溫速率:1℃/min~10℃/min;
(4)四通道測(cè)試夾具:低溫夾具為融石英與鈹銅鍍金探針復(fù)合結(jié)構(gòu)夾具,探針壓力150g,探針直徑小于3mm,探針彈簧行程大于4mm,*證長(zhǎng)期測(cè)試穩(wěn)定性;
(5)系統(tǒng)屏蔽:輸入端口采用四個(gè)BNC端口;輸出端口采用10個(gè)SMA輸出端口,需采用SMA接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性(頻率大于1MHz時(shí));四通道切換主板采用預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì),連接線材采用射頻同軸線,*證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性;
(6)測(cè)試頻率范圍:阻抗測(cè)試范圍20Hz-10MHz, LCR測(cè)試范圍20Hz-2MHz(請(qǐng)依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表)
(7)測(cè)試頻率數(shù)量:1~8個(gè)
(8)測(cè)試樣品個(gè)數(shù):4個(gè)
(9)測(cè)試樣品直徑:1.5 mm~20mm
(10)測(cè)試樣品厚度:0.02 mm~4mm
(11)測(cè)試液氮用量:一次測(cè)試液氮使用小于1L;
(12)變溫介電頻譜測(cè)試功能;變溫阻抗測(cè)試功能;掃頻測(cè)試功能。
(13)軟件:采用C#語言編寫,可視化程度高,自動(dòng)測(cè)試。同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù),并圖形化。
(二)、高溫模塊:
1、系統(tǒng)配置參數(shù)
系統(tǒng)采用模塊化結(jié)構(gòu),測(cè)試主機(jī)、溫控系統(tǒng)、信號(hào)采集系統(tǒng)、LCR表模塊四個(gè)分系統(tǒng)分離,易于系統(tǒng)寬展和升*。含測(cè)試信號(hào)切換與控制系統(tǒng)1臺(tái),高溫儀含四通道測(cè)試夾具1臺(tái),測(cè)試軟件1套。
2、性能指標(biāo)參數(shù)
(1)溫度區(qū)間:室溫~1000℃;
(2)溫度精度:±0.5 ℃
(3)升溫速率:1℃/min~10℃/min;
(4)四通道測(cè)試夾具:高溫夾具為融石英與探針復(fù)合夾具。其中探針為氧化鋁與鉑金復(fù)合結(jié)構(gòu),芯層為鉑金,絕緣層為氧化鋁,屏蔽層為鉑金并屏蔽至樣品端,探針直徑小于3.5mm。以*證長(zhǎng)期高溫測(cè)試穩(wěn)定性。
(5)系統(tǒng)屏蔽:輸入端口采用四個(gè)BNC端口;輸出端口采用10個(gè)SMA輸出端口,需采用SMA接頭以提高高頻測(cè)試穩(wěn)定性(頻率大于1MHz時(shí));四通道切換主板采用預(yù)埋屏蔽層設(shè)計(jì),連接線材采用射頻同軸線,*證低頻與高頻測(cè)試精度和穩(wěn)定性;
(6)測(cè)試頻率范圍:阻抗測(cè)試范圍20Hz-10MHz, LCR測(cè)試范圍20Hz-2MHz(請(qǐng)依據(jù)系統(tǒng)中匹配的阻抗分析儀或LCR表)
(7)測(cè)試頻率數(shù)量:1~8個(gè)
(8)測(cè)試樣品個(gè)數(shù):4個(gè)
(9)測(cè)試樣品直徑:1.5 mm~20mm
(10)測(cè)試樣品厚度:0.02 mm~4mm
(11)變溫介電頻譜測(cè)試功能;變溫阻抗測(cè)試功能;掃頻測(cè)試功能。
(12)軟件:采用C#語言編寫,可視化程度高,自動(dòng)測(cè)試。同時(shí)顯示四通道的測(cè)試數(shù)據(jù),并圖形化。