單元式熱電聯(lián)產(chǎn)機(jī)組

在重新設(shè)計(jì)單元式熱電聯(lián)產(chǎn)機(jī)組時(shí)，也應(yīng)對(duì)自動(dòng)化方法進(jìn)行重新設(shè)計(jì)。目標(biāo)是執(zhí)行所有控制、可視化和歸檔任務(wù)，這些任務(wù)以前都是通過緊湊型機(jī)組中的 PLC 和 PC 處理的。以節(jié)省控制柜空間，降低管理和培訓(xùn)要求。同時(shí)還需要一種堅(jiān)固耐用的免維護(hù)設(shè)備，并可方便地通過 Internet 進(jìn)行連接。

基于 SIMATIC PC 的自動(dòng)化解決方案的優(yōu)點(diǎn)：

• 小型箱式 PC 用作堅(jiān)固耐用、結(jié)構(gòu)緊湊的嵌入式系統(tǒng)
  • 通過一個(gè)裝置即可實(shí)現(xiàn)控制、可視化和過程參數(shù)歸檔
  • 將多個(gè)任務(wù)集成到一臺(tái)嵌入式工業(yè) PC 上，節(jié)省了空間與成本
    以前：一個(gè) PLC 及 一個(gè)可視化 PC
• 可方便地通過 Internet 訪問嵌入式 IPC

工廠解決方案

薄膜厚度測量

在生產(chǎn)塑料薄膜的過程中，在整個(gè)寬度上具有高度精確和統(tǒng)一的薄膜厚度是一個(gè)決定性的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。為此，一個(gè)帶有放射源的測量頭在薄膜上方與連續(xù)輸送的滾軸垂直的方向上來回移動(dòng)，一個(gè)傳感器在薄膜下放移動(dòng)。

從輻射的衰減程度并通過大量數(shù)學(xué)計(jì)算，可以精確確定每個(gè)位置處的薄膜厚度，并對(duì)與參考位置的偏差進(jìn)行補(bǔ)償。

基于 SIMATIC PC 的自動(dòng)化解決方案的優(yōu)點(diǎn)：

• 使用 WinCC 實(shí)現(xiàn)可視化，通過 PC 上的 WinAC RTX 進(jìn)行控制。
• 對(duì)大量測量數(shù)據(jù)進(jìn)行分析需要復(fù)雜數(shù)學(xué)算法。
• 這些任務(wù)可在高級(jí)語言 C++ 中來完成。通過 ODK（開放式開發(fā)工具包），可將這些算法無縫和高性能地集成到 STEP 7 程序中。
• WinAC RTX 和 WinCC 之間的數(shù)據(jù)交換（用于對(duì)大量測量曲線進(jìn)行可視化）可通過硬盤高速緩存非常迅速地完成。此功能也通過 ODK 來實(shí)現(xiàn)。
• 標(biāo)準(zhǔn)工藝功能間的互連是通過 CFC（連續(xù)功能圖）完成的。