高低溫試驗(yàn)機(jī)規(guī)格：

　　內(nèi)尺寸：50×60×55㎝(W*D*H)╳2內(nèi)容積：165L*2臺(tái)

　　外尺寸：115×158×184㎝(W*D*H)

　　溫度范圍：-70℃～+150℃(氣冷式)

　　濕度范圍：10%～98%RH

　　降溫速率：20℃～-70℃/85min(空載下)

　　升溫速率：20℃～+150℃/45min(空載下)

　　發(fā)熱負(fù)載：250W.(40℃,90%RH)

　　溫度穩(wěn)定度：±0.2℃

　　濕度穩(wěn)定度：±2%

　　高低溫試驗(yàn)機(jī)滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：　　1、GB/T2423.1-2001低溫試驗(yàn)方法;

　　2、GB/T2423.2-2001高溫試驗(yàn)方法;

　　3、GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn)N;

　　4、國(guó)軍標(biāo)GJB150.3-86;

　　5、國(guó)軍標(biāo)GJB150.4-86;

　　6、國(guó)軍標(biāo)GJB150.5-86;

　　7、GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

　　8、GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);

　　9、GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn)。

　　10、SJ/T10187-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——一箱式

　　11、SJ/T10186-91Y73系列溫度變化試驗(yàn)箱——二箱式

　　12、滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-14_試驗(yàn)方法N_溫度變化

　　10、GB/T2424.13-2002試驗(yàn)方法溫度變化試驗(yàn)導(dǎo)則

　　11、GB/T2423.22-2002溫度變化

　　12、QC/T17-92汽車(chē)零部件耐候性試驗(yàn)一般規(guī)則,

　　13、EIA364-32熱沖擊(溫度循環(huán))

　　高低溫試驗(yàn)機(jī)應(yīng)用范圍：　　高低溫試驗(yàn)機(jī)又名高低溫濕熱試驗(yàn)室、大型高低溫濕熱試驗(yàn)箱、兩箱移動(dòng)高低溫試驗(yàn)機(jī)，用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件通訊組件、汽車(chē)配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠等行業(yè)，國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC半導(dǎo)體陶磁及高分子材料之物理牲變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害，可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件，無(wú)一不需要它的理想測(cè)試工具.

　　為了仿真不同電子構(gòu)件，在實(shí)際使用環(huán)境中遭遇的溫度條件，改變環(huán)境溫差范圍及急促升降溫度改變，可以提供更為嚴(yán)格測(cè)試環(huán)境，縮短測(cè)試時(shí)間，降低測(cè)試費(fèi)用，但是必須要注意可能對(duì)材料測(cè)試造成額外的影響，產(chǎn)生非使用狀態(tài)的破壞試驗(yàn)。(需把握在失敗機(jī)制依然未受影響的條件下)RAMP試驗(yàn)條件標(biāo)示為：TemperatureCycling或TemperatureCyclingTest也就是溫度循環(huán)(可控制斜率的溫度沖擊)。