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公司基本資料信息
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量測參數(shù)
以下任何參數(shù)皆可測試并顯示于LCD:
電感模式
電感(L),電阻(Z),
直流電阻Rdc及電容(C)。
適用串聯(lián)/并聯(lián)等效電路
Loss term:品質(zhì)因素(Q),
消散因素(D),交流電阻,相位角……等
Handier模式
Enables existing 4-wire scanners tobe used
Functions as for impedancd mode
With the addition of tuns ratio
變壓器測試模式
各線圈之直流電阻,初級圈/次級圈之漏電感(Leakage lnductance)及品質(zhì)因素(Q),圈數(shù)比(TR),線圈間電容(lnterwinding Capacitance)及漏電感(Leakage lnductance)另可搭配絕緣測試功能(選購)。
通訊測試模式
提供插入損失(IL)及反射損失(RL)測試功能,適合于通訊用匹配變壓器speech band(100Hz to 20KHz).可選擇的line impedance(Zo)及termination(Rt)值,并可設(shè)定額外的模擬阻抗及電容。
圓形分析模式
可在量測模式下以頻率或AC電壓為掃描基準(zhǔn),來執(zhí)行圓形掃描度顯示結(jié)果。可選擇以linear或log為座標(biāo)。
多頻率測試模式
可在量測模式下設(shè)定量測參數(shù)及測試條件,*多8種不同的測試頻率,PASS/FAIL提示功能設(shè)定(依一般值或百分比)。
測式條件
低電壓信號位準(zhǔn)
適用于量測L+Q,Ls+Rs,
C,Z,Turns Ratio及Leakage
Lnductance
頻率范圍
20Hz to 3MHz(測試lnterwinding C時低點(diǎn)為1KHz)
頻率波段
Lncrements of 1% or better across
Range 1200 frequencies approx
精準(zhǔn)度 ±0.01%
信號位準(zhǔn)
內(nèi)阻50Ω
1mV to 10V rms into open circuit
50uA to 200mA rms into short circuit
ALC maintains level applied to
DUT at
±2%,±1mV of set voltage or
±2% ±0.1mA of set current
DC bias 直流偏壓電流
內(nèi)建1mA to 1A dc,全頻率快速設(shè)定
安全保護(hù)開關(guān)設(shè)計(jì)
直流電阻測試
低電壓信號位準(zhǔn) 100mV
短路電流 10mA
絕緣測試(選購)
測試電壓選擇 100,200 or 500V dc.
電壓輸出誤差范圍 ±3%
為了使用者操作安全,短路時限流2mAc 以下
Bin Handler模式(選購)
依照一般值或百分比設(shè)定高點(diǎn)10段分類功能。
提供個別的Pass/Fail信號輸出。
內(nèi)建記憶體,可儲存100組分類范圍設(shè)定,TTL輸出至外接bin handler/25pin
D type 接頭
通訊測試模式(選購)
輸出信號位準(zhǔn) -28至16dBm
測試時間依信號準(zhǔn)而有所有不同
Zo/Rt 50-2000Ω
一般測試時間 <1.5S
量測速度
在做阻抗,圈數(shù)比,直流電阻以及絕緣等測試時,共有4種測試速度可依同需求做適當(dāng)選擇,MAXimum,FAST,
MEDium 及 SLOW
MAX(25次/秒)適合于連接IEEE
488.2外部控制時使用
FAST約10次/秒
SLOW約1次/秒 適用于需要高精度度時.
量測范圍
R 0.1MΩ TO > 2GΩ*
L 0.1nH to > 1000H *
C 5Ff to > 1F
精準(zhǔn)度
Lnductance/Rac/Z/Cp ±0.1%**
Q ±0.1%(Q+1/Q)**
D ±0.001%(1+1/D2)**
Turns ratio ±0.1%**
Rdc ±0.5%
lnsulation ±5%(500V test)
lnsertion Loss ±0.1%dB
Return Loss ±1%dB
精準(zhǔn)度依frequency,Zo,Rt,range,leve等設(shè)定不同而有所變化.
*依測試速度不同而有所變化.
**依頻率及選用功能不同而有所變化.